1  性能特點(diǎn)●適于測(cè)量等電位連接電阻、各種電氣設(shè)備間連接導(dǎo)體的電阻。也可以測(cè)量開關(guān)、插座觸點(diǎn)的接觸電阻以及其它低值電阻?！癫捎?ldquo;四端子”測(cè)試技術(shù)，消除引線

方塊電阻測(cè)試儀st-21h 是一種依照類似的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)和美國(guó)a.s.t.m標(biāo)準(zhǔn)，專門測(cè)量半導(dǎo)體薄層電阻(表面電阻)的新型儀器，可用于測(cè)量一般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜(ito透明氧化膜)，金屬薄膜……等同類物質(zhì)的薄層電阻。

mcp-t700高精密阻抗分析儀 替代老型號(hào)mcp-t610阻抗分析儀，mcp-t610己停產(chǎn) 基于4探針測(cè)試原理可以精準(zhǔn)而快速的測(cè)試材料的低電阻特性;4-pin測(cè)試原理可以有效消除探頭接觸樣品的接觸電阻及導(dǎo)線的電阻； mcp系列鍍金彈簧探針針距恒定，且與測(cè)試樣品接觸的壓力恒定。

方塊電阻測(cè)試儀st-21 是四探針?lè)綁K電阻測(cè)試儀中的新一代產(chǎn)品，是一種依照類似國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)和美國(guó)a.s.t.m標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)，專門測(cè)量半導(dǎo)體方塊電阻(或稱薄屋電阻、面電阻，單位ω/□)的新型儀器。可用于測(cè)量一般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜(如ito透明導(dǎo)電氧化膜)……等同類物質(zhì)的薄層電阻。