國產(chǎn)x熒光光譜儀分析速度高。測定用時(shí)與測定精密度有關(guān),但一般都很短,2~5分鐘可以測完樣品中的全部待測元素;x射線熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān),而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒有關(guān)系。(氣體密封在容器內(nèi)也可分析)但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現(xiàn)象。特別是在*軟x射線范圍內(nèi),這種效應(yīng)*為顯著。波長變化用于化學(xué)位的測定;
更新時(shí)間:2025-12-30