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| 項目 | SMZ745/745T |
| 光學系統(tǒng) | 內斜式格里諾光學系統(tǒng) |
| 物鏡筒 | 內嵌0.55倍鏡頭,適用于2/3英寸以下的CCD |
| 鏡 筒 | 固定式 |
| 俯視角 | 45° |
| 瞳距調整范圍 | 52~75mm |
| 目 鏡(有視度補償) | C-W10xB(視野數22)、C-W15x(視野數16)、(標配) C-W20x(視野數12.5)、C-W30x(視野數7)(選配) |
| 光學變焦范圍 | 0.67~5倍 |
| 變焦比 | 7.5:1 |
| 輔助物鏡 | G-AL0.5 x (工作距離211 mm)G-AL0.7 x(工作距離150 mm)G-AL1.5 x (工作距離61 mm)G-AL2x(工作距離43.5 mm) |
| 工作距離 | 115mm(標準配置時) |
| 重 量 | 1.8kg(SMZ745T) 1.55kg(SMZ745) |

產品簡介: 連續(xù)變倍體視顯微鏡,標準配置連續(xù)放大倍率:7X~45X,放大限度范圍:在3.5X-180X之間(使用輔
助物鏡),調焦手輪松緊可調,升降范圍49mm,使用高眼點廣角目鏡,為佩帶眼鏡的觀察者提供方便,標
準工作距離為100mm,最長限度范圍:30mm-165mm超長的工作距離,為使用者提供更大的工作空間.
應用領域: 工業(yè)上的裝配、測試、測量以及品質控制,尤其是IT產業(yè)測試;學校和研究所自然科學方面的培訓和
教育;醫(yī)療機構的日常檢查、生物工程和科學的研究;能滿足現(xiàn)代生物研究、半導體和其它科技工業(yè)領域等
高科技領域。
功能特點:
● 防靜電功能:采用鋁制材料,同時加噴防靜電漆,能防止靜電的干擾。
● 密封功能:變倍鏡筒、10X目鏡都具有密封功能,當顯微鏡在油氣、水汽等濕度較高的環(huán)境中仍能較
方便的使用。
● 創(chuàng)見性人機學設計,更加操作者長時間舒適操作。
● 具有高清晰度、大視場,長工作距離等特點。WH10X20mm高眼點廣角目鏡,為佩帶眼鏡的觀察者提供
方便, 30mm-165mm超長的工作距離,為使用者提供更大的工作空間.
IDEA SCIENCE愛迪賽恩公司為您提供的解決方案
Evex憑借NanoAnalysis系統(tǒng)----完整的電子顯微鏡方案----引領顯微鏡的新時代。Evex NanoAnalysis系統(tǒng)由Evex Mini-SEM,Evex Mini-SEM,EvexQDD的探測器技術和Evex NanoAnalysis軟件組成。Mini-SEM是具有高清度,高放大率,高性能的臺式掃描電子顯微鏡。Mini-SEM結合了傳統(tǒng)SEM的性能,但在大小,價格和易操作方面超越了臺式顯微鏡。運用能量分散光譜(EDS/EDX)技術時,添加EvexQDD,無液氮高速X射線探測器和Evex X射線NanoAnalysis軟件(光譜采集模式,圖像采集模式和元素繪圖模式)到其中,可在幾秒內分析樣品的元素成分和描繪元素相關位置。
Evex將該系統(tǒng)設計成實用,易操作且購買得起的。幾秒鐘內從10X到30000X (120000X數字變焦)變焦。自動聚焦,亮度和對比度自動調整讓每張圖片都很。
Mini-SEM可用于醫(yī)療保健,儀器科學,法醫(yī)學,生命科學,材料科學,軍隊或教育領域。無論何種應用,Mini-SEM都是的工具。
Evex NanoAnalysis系統(tǒng)是確認一個樣品的元素成分的最有力的分析工具。將樣品插入測試室內,幾秒內就出現(xiàn)圖像。事先瀏覽整個圖像視野或在某一個特征上放大。點擊圖像中的一點,收集光譜開始。幾秒內通過元素成分確認物質。接下來,激活任一繪圖功能來確定元素的空間位置,通過使用任何以下繪圖模式來完成:點式,多點式,線掃描,區(qū)域繪圖,變焦繪圖,索引繪圖和痕量感光分析(T.S.A)的索引繪圖。
Evex NanoAnalysis系統(tǒng)的繪圖功能包括索引繪圖(用于圖像的每個像素的一段光譜)和T.S.A(痕量感光分析),后者能測定整個樣品中極微量的物質濃度。索引繪圖的最大優(yōu)勢是它能保存整個實驗,因此你可以在任何工作地點的任何時候檢索原始數據。
Evex Mini-SEM技術參數 放大率: 30,000X(數字變焦4 -120,000X)加速功率: 1kv – 30kv探測器: SEI(標準),BEI/EDS(可選)圖像大?。?4096×4096圖像格式: JPG,TIFF,BMP,PNG數據顯示: Micron Bar, Magnificaiton, Date, Kv電壓: 110v或220v
無液氮高速X射線探測器
探測器窗口 SUTW UTW Be 檢測限 Be4/B5 C6 Na11 精度 128FWHM @ 5.9kev MN-Ka 1000cps 傳感器尺寸 10mm, 20mm, 30mm 冷卻 Peltier
A – Evex Mini-SEM (掃描電子顯微鏡)B – 電源開頭 & 樣品交換按鈕C – 真空標準Vacuum Level -D – 樣品交換Sample Exchange -- 樣品室大小 - 4x4x4- 樣品大小- 2x2x2- 樣品位置 (X,Y,R)E – 高速無液氮X射線探測器- 檢測元素范圍:4 - 92 $$$$ (Be - U) (SSUTW)- 檢測元素范圍:5 - 92 $$$ (B - U) (SUTW)- 檢測元素范圍:6 - 92 $$ (C - U) (UTW)- 檢測元素范圍:11 - 92 $ (Na - U) (TW)F - NanoAnalysis – 軟件G – 光譜采集組件 – 元素組成成分H – 圖像收集組件 – 圖像I – 射線探測器電源J – 元素繪圖
技術參數
| 型號 | SW-608 |
| 目鏡 | 大視野WF10X(視場數Φ18mm) WF16X(選配) |
| 平場消色差物鏡 | PL 4X/0.10工作距離:17.5mm |
| PL 10X/0.25工作距離:7.31mm | |
| PL 40X/0.65(彈簧) 工作距離:0.63mm | |
| PL 100X/1.25(彈簧,油 Spring, oil)工作距離:0.18mm | |
| 同軸粗微動調焦機構 | 調焦范圍 15mm 微動格值 0.002mm |
| 放大倍數 | 光學放大倍數:40X-1000X,系統(tǒng)參考放大倍數: 40X-2600X |
| 機械筒長 | 160mm |
| 聚光鏡數值孔徑(NA) | 1.25 |
| 機械載物臺尺寸 | 150mm*135mm 移動范圍:75*50mm 游標格值:0.1mm |
| 濾色片 | 藍濾色片, 磨砂玻璃 |
| 光源 | LED光源,可調光亮度 |
| 防霉 | 特有的防霉系統(tǒng) |
| 型號 | SW-608P觸摸屏可測量+可拍照+可儲存+高清平板 | |
| 產品特點 | SW-608P是我司采用安卓4.2系統(tǒng)開發(fā)出的一款全智能顯微鏡,內置測量和細胞計數軟件,可以無限次升級,帶觸摸操控等智能化一體顯微鏡。 | |
| 技術參數 | 圖像傳感器 | 1/2.5”彩色500萬CMOS |
| 有效像素 | 2592*1944 | |
| 像素尺寸 | 2.2*2.2um | |
| 液晶屏 | 9.7寸1024*768 IPS液晶屏 | |
| 幀率 | 30 | |
| 清晰度 | FULL HD | |
| 外殼 | Abs+pc塑膠外殼+鋁合金后蓋,金屬支架 | |
| 鏡頭 | CS用于測試,客戶提供 | |
| 白平衡 | 自動、手動 | |
| 操作系統(tǒng) | 安卓4.2.2 | |
| 亮度控制 | 自動、手動 | |
| 顏色 | R/G/B可調 | |
| 凍結 | 支持 | |
| OSD | 全面數字ui設計,鼠標操作 | |
| 邊沿增強 | 支持 | |
| 拍照錄像 | 支持 | |
| 十字光標 | 支持,多色,粗細可調 | |
| 橫線豎線 | 支持,多色,橫豎各四條,位置可移,粗線可調 | |
| 圖像對比 | 支持圖像對比功能 | |
| 寬動態(tài) | 支持 | |
| 測量 | 支持 | |
| 數字降噪 | 支持 | |
| SD卡接口 | SD2.0,標準大卡,隱藏式設計,最大支持32G | |
| HDMI接口 | 標準HDMI輸出(Type A) | |
| 鏡頭 | C | |
| USB 接口 | 標準的usb2.0接口(Type A) | |
交流掃描電化學顯微鏡系統(tǒng)(ac-SECM)
間歇接觸掃描電化學顯微鏡系統(tǒng)(ic-SECM)
微區(qū)電化學阻抗測試系統(tǒng)(LEIS)
掃描振動點擊測試系統(tǒng)(SVET)
電解液微滴掃描系統(tǒng)(SDS)
交流電解液微滴掃描系統(tǒng)(ac-SDS)
掃描開爾文探針測試系統(tǒng)(SKP)
非觸式微區(qū)形貌測試系統(tǒng)(OSP)
出色的性能
快速精準的閉環(huán)定位系統(tǒng)為電化學掃描探針納米級研究的需求而特別設計。結合Uniscan 獨特的混合型32-bit DAC技術,用戶可以選擇合適實驗研究的最佳配置
先進和靈活的工作平臺
系統(tǒng)可提供9種探針技術,使得M470成為全球最靈活的電化學掃描灘鎮(zhèn)工作平臺。
全面的附件
7種模塊可選,3種不同電解池,各式探針,長距顯微鏡以及后處理數據分析軟件。
M470新產品特征
SECM自動處理曲線
SECM用戶自定義處理曲線步長變化
高分辨率讀取
手動或自動調節(jié)相位
M470同時具備如下特點:
傾斜校正
X或Y曲線相減(5階多項式)
2D或3D快速傅里葉變化
實驗,探針移動和區(qū)域繪圖的自動排序
圖形實驗測序引擎(GESE)
支持多區(qū)域掃描
所有實驗多個數據視圖
峰值分析
是由
M470技術參數
工作站(所有技術)
掃描范圍(x,y,z) 大于100nm
掃描驅動分辨率 最高0.1nm
閉環(huán)定位 線性零滯后編碼器,直接實時讀出x,z和y位移
軸分辨率(x,y,z) 20nm
最大掃描速度 12.5mm/s
測量分辨率 32-bit解碼器@高達40MHz
壓電(ic-和ac-掃描探針技術)
振動范圍 20nm~ 2μm峰與峰之間1nm增量
最小振動分辨率 0.12nm(16-bit DAC,4μm)
壓電晶體伸展 100μm
定位分辨率 0.09nm(20-bit DAC ,100μm)
機電
掃描前端 500×420×675mm(H×W×D)
掃描控制單元 275×450×400mm(H×W×D)
功率 250W