掃描電子顯微鏡(SEM)產(chǎn)品及廠家

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)操作SH/T 0221液化石油氣密度或相對密度測定法(壓力密度計法)
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)操作sh/t 0221液化石油氣密度或相對密度測定法(壓力密度計法)
更新時間:2025-12-24
標(biāo)準(zhǔn)操作SH/T 0059潤滑油燕發(fā)損失的測定諾亞克法
標(biāo)準(zhǔn)操作sh/t 0059潤滑油燕發(fā)損失的測定諾亞克法
更新時間:2025-12-24
形貌分析-多功能電子顯微鏡(TEM-SEM)
電子顯微鏡(electron microscope)是利用電子與物質(zhì)作用所產(chǎn)生之訊號來監(jiān)定微區(qū)域晶體結(jié)構(gòu),微細(xì)組織,化學(xué)成份,化學(xué)鍵結(jié)和電子分布情況的電子光學(xué)裝置。常用的有透射電子顯微鏡(tem)和掃描電子顯微鏡(sem)。與光學(xué)顯微鏡相比電子顯微鏡用電子束代替了可見光,用電磁透鏡代替了光學(xué)透鏡并使用熒光屏將肉眼不可見電子束成像。多功能電子顯微鏡將常見的tem、sem、stem、ed四種模式結(jié)合
更新時間:2025-12-24
缺陷分析-超聲波掃描顯微鏡(SAM)
   聲學(xué)顯微鏡,學(xué)名是:掃描聲學(xué)顯微鏡scanning acoustic microscope,簡稱sam。它是基于聲波脈沖反射和透射原理工作的,只要聲波信號在樣品表面或者內(nèi)部遇到聲波阻抗(如遇到孔隙、氣泡等),就會發(fā)生反射。    sam主要用于材料淺表層結(jié)構(gòu)分析、材料力學(xué)性能的檢測、無損檢測等。
更新時間:2025-12-24
小型透射電子顯微鏡(TEM)
透射電子顯微鏡(tem)和掃描電子顯微鏡(sem)。與光學(xué)顯微鏡相比電子顯微鏡用電子束代替了可見光,用電磁透鏡代替了光學(xué)透鏡并使用熒光屏將肉眼不可見電子束成像。
更新時間:2025-12-24
加拿大LVEM5掃描顯微鏡SEM
透射電子顯微鏡(tem)和掃描電子顯微鏡(sem)。與光學(xué)顯微鏡相比電子顯微鏡用電子束代替了可見光,用電磁透鏡代替了光學(xué)透鏡并使用熒光屏將肉眼不可見電子束成像。
更新時間:2025-12-24
TOMLOV HDMI 顯微鏡 DM401/DM401 Pro/DM402 Pro 2K/4K 高清 1200X 放大 7 寸 IPS 屏 雙 LED 光源 自動對焦 電子維修 PCB 焊接珠寶鑒定
tomlov hdmi電源產(chǎn)品顯微鏡將傳統(tǒng)顯微鏡升級為數(shù)字可視化系統(tǒng),讓觀察更輕松、記錄更便捷。三款產(chǎn)品以不同配置滿足從入門到專業(yè)的各類需求,是電子愛好者、收藏家和專業(yè)維修人員的實用工具。
更新時間:2025-12-24
SEM掃描電鏡,臺式掃描電子顯微鏡
sem掃描電鏡,臺式掃描電子顯微鏡在電子學(xué)研究中,掃描電鏡主要可以用來觀測及分析半導(dǎo)體、數(shù)據(jù)存儲材料、太陽能電池、led、元器件、pcb板及mems器件等的形態(tài)或缺陷 。
更新時間:2025-12-24
SEM掃描電鏡,臺式掃描電子顯微鏡#2023已更新
sem掃描電鏡,臺式掃描電子顯微鏡在電子學(xué)研究中,掃描電鏡主要可以用來觀測及分析半導(dǎo)體、數(shù)據(jù)存儲材料、太陽能電池、led、元器件、pcb板及mems器件等的形態(tài)或缺陷 。
更新時間:2025-12-24
蔡司電腦斷層掃描測量機2022動態(tài)已更新《采購/推薦》
蔡司電腦斷層掃描測量機-多探頭測量機設(shè)備;工業(yè)計算機斷層掃描(ct)為您提供了quanxin的洞見,讓您可以快速采集所有內(nèi)部結(jié)構(gòu)的體積。蔡司是快速ct的先驅(qū),并且能夠在生產(chǎn)周期中對組件進行完整的以體積為基礎(chǔ)的檢查。
更新時間:2025-12-24
飛納臺式自動化掃描電鏡大樣品室版
的易于學(xué)習(xí)的界面可幫助您快速掌握信息,是各種應(yīng)用的理想選擇。phenom xl g3 平均成像時間僅為 40 秒,比市場上其他臺式電鏡的速度快 5 倍之多。系統(tǒng)可對最大 100 x 100mm 的樣品進行分析,8nm 的分辨率為分析提供更多的細(xì)節(jié)。專利設(shè)計的放氣 / 樣品裝載系統(tǒng)可以實現(xiàn)全世界相對較快的放氣 / 裝載速度,并獲得非常少有的比較高的樣品吞吐效率。
更新時間:2025-12-23
第七代飛納臺式掃描電鏡 Phenom Pro|高分辨率專業(yè)版
phenom pro 是飛納(phenom)第七代高分辨率臺式掃描電鏡,采用一代 高亮度 ceb? 燈絲 與優(yōu)化的電子光學(xué)系統(tǒng),實現(xiàn) 優(yōu)于 6 nm 分辨率,最高放大 350,000×, 輕松完成納米級與亞微米級材料的微觀形貌觀察。相比上一代產(chǎn)品,分辨率提升約 20%,新增 實時 bse/se 混合圖像(mix) 功能,為科研與工業(yè)檢測帶來更高效率與更精確的微觀分析體驗。
更新時間:2025-12-23
飛納臺式掃描電鏡電鏡能譜一體機
加快材料研究的突破性進展,您的實驗室需要一臺具備快速準(zhǔn)確分析大量材料微觀結(jié)構(gòu)的掃描電鏡。第六代 phenom prox 飛納臺式掃描電鏡能譜一體機引入了全新一代操作系統(tǒng),通過改進光路設(shè)計,將分辨率提升到新高度。能譜操作界面與能譜算法進一步升,易于操作,元素分析更快速。
更新時間:2025-12-23
飛納臺式大倉室自動化掃描電鏡
荷蘭飛納公司隆重推出第三代飛納臺式大倉室自動化掃描電鏡 phenom xl g3
更新時間:2025-12-23
飛納臺式掃描電鏡 Phenom XL
全新的易于學(xué)習(xí)的界面可幫助您快速掌握新信息,是各種應(yīng)用的理想選擇。phenom xl g2 升為全面屏成像,平均成像時間僅為 40 ,比市場上其他臺式電鏡的速度快 5 倍之多。系統(tǒng)可對大 100 x 100mm 的樣品進行分析,8nm 的分辨率為分析提供更多的細(xì)節(jié)。利設(shè)計的放氣/樣品裝載系統(tǒng)可以實現(xiàn)全快的放氣/裝載速度,并獲得大的樣品吞吐效率。
更新時間:2025-12-23
飛納臺式掃描電鏡Phenom Pro
飛納掃描電鏡是一款使用高亮度 ceb6 燈絲的高分辨臺式掃描電鏡。放大倍數(shù) 350,000 倍,用于觀察納米或者亞微米樣品的微觀結(jié)構(gòu)。
更新時間:2025-12-23
飛納臺式掃描電鏡 Phenom  Pro
第六代 phenom pro 臺式掃描電鏡是一款功能強大,輕松易用的多功能設(shè)備。長壽命、高亮度 ceb6 燈絲擴展了研究設(shè)備的功能,結(jié) 合豐富的樣品杯選件和拓展的全自動軟件,phenom pro 可以適用于廣泛的研究域。
更新時間:2025-12-23
飛納臺式掃描電子顯微鏡標(biāo)準(zhǔn)版Pure
第六代 phenom pure 是一款使用高亮度 ceb6 燈絲的高分辨臺式掃描電鏡。放大倍數(shù) 175,000 倍,用于觀察納米或者亞微米樣品的微觀結(jié)構(gòu)?;诟吡炼?ceb6 燈絲和全新的聚焦系統(tǒng),phenom pure 的分辨率輕松達到 10 nm,同時具有全自動操作、15 快速抽真空、不噴金觀看絕緣體、2-3 年更換燈絲等特點。
更新時間:2025-12-23
飛納臺式掃描電子顯微鏡業(yè)版Pro
第六代 phenom pro 臺式掃描電鏡是一款功能強大,輕松易用的多功能設(shè)備。長壽命、高亮度 ceb6 燈絲擴展了研究設(shè)備的功能,結(jié) 合豐富的樣品杯選件和拓展的全自動軟件,phenom pro 可以適用于廣泛的研究域。
更新時間:2025-12-23
飛納臺式掃描電鏡 Phenom ProX
加快材料研究的突破性進展,您的實驗室需要一臺具備快速準(zhǔn)確分析大量材料微觀結(jié)構(gòu)的掃描電鏡。第六代 phenom prox 飛納臺式掃描電鏡能譜一體機引入了全新一代操作系統(tǒng),通過改進光路設(shè)計,將分辨率提升到新高度。能譜操作界面與能譜算法進一步升,易于操作,元素分析更快速。
更新時間:2025-12-23
飛納臺式掃描電子顯微鏡 Phenom ProX
加快材料研究的突破性進展,您的實驗室需要一臺具備快速準(zhǔn)確分析大量材料微觀結(jié)構(gòu)的掃描電鏡。第六代 phenom prox 飛納臺式掃描電鏡能譜一體機引入了全新一代操作系統(tǒng),通過改進光路設(shè)計,將分辨率提升到新高度。能譜操作界面與能譜算法進一步升,易于操作,元素分析更快速。
更新時間:2025-12-23
飛納臺式掃描電鏡
加快材料研究的突破性進展,您的實驗室需要一臺具備快速準(zhǔn)確分析大量材料微觀結(jié)構(gòu)的掃描電鏡。第六代 phenom prox 飛納臺式掃描電鏡能譜一體機引入了全新一代操作系統(tǒng),通過改進光路設(shè)計,將分辨率提升到新高度。能譜操作界面與能譜算法進一步升,易于操作,元素分析更快速。
更新時間:2025-12-23
Phenom 飛納煙草紙張領(lǐng)域掃描電子顯微鏡
phenom 飛納煙草紙張領(lǐng)域掃描電子顯微鏡
更新時間:2025-12-23
飛納臺式掃描電鏡 | 工業(yè) 4.0 自動化與高通量質(zhì)控解決方案
的易于學(xué)習(xí)的界面可幫助您快速掌握信息,是各種應(yīng)用的理想選擇。phenom xl g3 平均成像時間僅為 40 秒,比市場上其他臺式電鏡的速度快 5 倍之多。系統(tǒng)可對最大 100 x 100mm 的樣品進行分析,8nm 的分辨率為分析提供更多的細(xì)節(jié)。專利設(shè)計的放氣 / 樣品裝載系統(tǒng)可以實現(xiàn)全世界相對較快的放氣 / 裝載速度,并獲得非常少有的比較高的樣品吞吐效率。
更新時間:2025-12-23
Phenom MAPS 大面積圖像拼接
phenom maps 作為一款多模態(tài)多維度地圖式圖像自動采集及拼接軟件,可自動獲取大型圖像數(shù)據(jù)集,并直觀地組合和關(guān)聯(lián)多種成像、分析模式,從而提供多尺度和多模態(tài)的表征數(shù)據(jù)。
更新時間:2025-12-23
ChemiSEM 彩色成像技術(shù)
飛納電鏡推出的 chemisem 技術(shù),將 sem 形貌觀察與 eds 成分分析相結(jié)合,讓工作流程更加流暢,簡化了許多材料(包括金屬、陶瓷、電池、涂層、水泥和軟物質(zhì)材料等)的分析流程:通過彩色元素分布圖與 sem 圖像的實時疊加,在成像同時提供高質(zhì)量的成分定性定量信息。
更新時間:2025-12-23
飛納電鏡全景拼圖【新品】
全新界面,一鍵掃描更便捷掃描“形狀”自定義大樣品全景觀測高清圖像無錯位
更新時間:2025-12-23
適用金屬和礦物研究—飛納電鏡物相分析軟件
適用金屬和礦物研究—飛納電鏡chemiphase物相分析軟件更容易,更全面,更準(zhǔn)確的物相分析
更新時間:2025-12-23
飛納臺式掃描電鏡能譜一體機 Phenom ProX G7
飛納電鏡能譜一體機 phenom prox 是終的集成化成像分析系統(tǒng)。借助該系統(tǒng),既可觀察樣品的表面形貌,又可分析其元素組分。
更新時間:2025-12-23
Phenom臺式掃描電子顯微鏡標(biāo)準(zhǔn)版Pure
放大倍數(shù):20000x;分辨率:優(yōu)于30nm;燈絲:1500小時ceb6燈絲抽真空時間:10;樣品移動方式:自動馬達樣品臺樣品定位方式:光學(xué)和低倍電子雙重導(dǎo)航樣品導(dǎo)電性要求:無需噴金,直接觀測絕緣體
更新時間:2025-12-23
FEI臺式掃描電鏡Phenom飛納 標(biāo)準(zhǔn)版
第六代 phenom pure 是一款使用高亮度 ceb6 燈絲的高分辨臺式掃描電鏡。放大倍數(shù) 175,000 倍,用于觀察亞微米樣品的微觀結(jié)構(gòu)。pure 具有全自動操作、15 快速抽真空、不噴金觀看絕緣體、2-3 年更換燈絲等特點,適用于傳統(tǒng)大電鏡待測樣品的快速篩選,也適合于光學(xué)顯微鏡的分辨率無法滿足需求的客戶。
更新時間:2025-12-23
FEI臺式掃描電鏡飛納(Phenom) 業(yè)版
第六代 phenom pro 臺式掃描電鏡是一款功能強大,輕松易用的多功能設(shè)備。長壽命、高亮度 ceb6 燈絲擴展了研究設(shè)備的功能,結(jié)合豐富的樣品杯選件和拓展的全自動軟件,phenom pro 可以適用于廣泛的研究域。
更新時間:2025-12-23
飛納(Phenom)臺式掃描電鏡 能譜版
加快材料研究的突破性進展,您的實驗室需要一臺具備快速準(zhǔn)確分析大量材料微觀結(jié)構(gòu)的掃描電鏡。第六代 phenom prox 飛納臺式掃描電鏡能譜一體機引入了全新一代操作系統(tǒng),通過改進光路設(shè)計,將分辨率提升到新高度。能譜操作界面與能譜算法進一步升,易于操作,元素分析更快速。
更新時間:2025-12-23
日本電子熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡
日本電子熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡適用于納米材料、化學(xué)、新材料、半導(dǎo)體器件的觀察和分析。
更新時間:2025-12-23
日本電子掃描電子顯微鏡
日本電子掃描電子顯微鏡jcm-700強大的"zeromag"功能,讓您從光學(xué)顯微鏡的觀察方式,輕松的無縫接軌到掃描電鏡的影像觀察。"live analysis"則實現(xiàn)了sem影像觀察時實時的eds成份分析。
更新時間:2025-12-23
供應(yīng)蘇州日立TM4000Ⅱ掃描電鏡
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式,每種模式下電流4檔可調(diào),并配備4分割背散射探測器,可采集四個不同方向的圖像信息,對樣品進行多種模式成像。具有全新的sem-map導(dǎo)航功能,同時,電鏡圖片可以報告形式導(dǎo)出。配備大型樣品倉,可容納大樣品直徑80mm,厚度50mm。
更新時間:2025-12-23
供應(yīng)蘇州日立FlexSEM1000 II鎢燈絲掃描電鏡
flexsem1000 ii是日立新的落地式小型鎢燈絲掃描電鏡,具有體積小、操作簡單、性能強、擴展功能豐富等特點。flexsem1000 ii配備了二次電子探測器和背散射電子探測器,可以觀察樣品的形貌和成分;同時具有低真空功能,可以直接觀察不導(dǎo)電樣品和含水樣品;配合新增的sem-map光鏡導(dǎo)航和5軸樣品臺可以快速、高效的完成觀察任務(wù)。
更新時間:2025-12-23
供應(yīng)蘇州日立TM4000Ⅱ掃描電鏡
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式,每種模式下電流4檔可調(diào),并配備4分割背散射探測器,可采集四個不同方向的圖像信息,對樣品進行多種模式成像。具有全新的sem-map導(dǎo)航功能,同時,電鏡圖片可以報告形式導(dǎo)出。配備大型樣品倉,可容納大樣品直徑80mm,厚度50mm。
更新時間:2025-12-23
供應(yīng)蘇州日立FlexSEM1000 II鎢燈絲掃描電鏡
flexsem1000 ii是日立新的落地式小型鎢燈絲掃描電鏡,具有體積小、操作簡單、性能強、擴展功能豐富等特點。flexsem1000 ii配備了二次電子探測器和背散射電子探測器,可以觀察樣品的形貌和成分;同時具有低真空功能,可以直接觀察不導(dǎo)電樣品和含水樣品;配合新增的sem-map光鏡導(dǎo)航和5軸樣品臺可以快速、高效的完成觀察任務(wù)。
更新時間:2025-12-23
供應(yīng)日立SU9000新型超高分辨冷場發(fā)射掃描電鏡
日立2011年新推出了su9000超高分辨冷場發(fā)射掃描電鏡,達到掃描電鏡世界最高二次電子分辨率0.4nm和stem分辨率0.34nm。日立su9000采取了全新改進的真空系統(tǒng)和電子光學(xué)系統(tǒng),不僅分辨率性能明顯提升,而且作為一款冷場發(fā)射掃描電鏡甚至不需要傳統(tǒng)意義上的flashing操作,可以高效率的快速獲取樣品超高分辨掃描電鏡圖像。 特點: 1. 新型
更新時間:2025-12-23
供應(yīng)蘇州日立S-3400N掃描電子顯微鏡
s­-3400n掃描電子顯微鏡 s-3400n具有最新開發(fā)的電子光學(xué)系統(tǒng),強大的自動化功能,操作更簡易。 特點: 1. s-3400n具有強大的自動功能,包括自動燈絲飽和、4偏壓、自動槍對中、自動束流設(shè)定、 自動合軸自動聚焦和消像散、自動亮度對比度等。 2. 在3kv低加速電壓時
更新時間:2025-12-23
供應(yīng)蘇州日立S-3700N 多功能分析型可變壓掃描電鏡
s-3700n 多功能分析型可變壓掃描電鏡 研究超大,超重,超高樣品的分析型掃描電鏡 ● 最大可載樣品直徑達300mm ●最大觀察區(qū)域直徑達203mm ● 在觀察110mm高樣品時可進行能譜分析 ● 樣品室設(shè)置多種接口,可安裝eds、wds、ebsd和cl等多種分析用附件 ● 5軸優(yōu)中心馬達臺可以傾
更新時間:2025-12-23
供應(yīng)蘇州日立TM4000Ⅱ掃描電鏡
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式,每種模式下電流4檔可調(diào),并配備4分割背散射探測器,可采集四個不同方向的圖像信息,對樣品進行多種模式成像。具有全新的sem-map導(dǎo)航功能,同時,電鏡圖片可以報告形式導(dǎo)出。配備大型樣品倉,可容納大樣品直徑80mm,厚度50mm。
更新時間:2025-12-23
和伍水浸超聲掃描顯微鏡半導(dǎo)體缺陷檢測儀
超聲掃描顯微鏡(sat)是一種利用超聲波為傳播媒介的無損檢測成像設(shè)備,主要利用高頻超聲波,對各類半導(dǎo)體器件、材料進行檢測,能夠檢測出樣品內(nèi)部的氣孔、裂紋、夾雜和分層等缺陷,并以圖形的方式直觀展示。在掃描過程中,不會對樣品造成損傷,不會影響樣品性能,可有效滿足新能源、半導(dǎo)體、電力電子、熱管理材料、金剛石復(fù)合材料、碳纖維復(fù)合材料等行業(yè)需求。
更新時間:2025-12-22
日本JEOL截面樣品拋光儀
日本jeol截面樣品拋光儀ib-19530cp,采用多用途樣品臺,通過交換各種功能性樣品座實現(xiàn)了功能的多樣化。根據(jù)需要可以選擇不同的功能性樣品座,不僅能截面刻蝕,還可以進行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。
更新時間:2025-12-22
日本JEOL截面樣品制備裝置
日本jeol截面樣品制備裝置ib-19530cp,采用多用途樣品臺,通過交換各種功能性樣品座實現(xiàn)了功能的多樣化。根據(jù)需要可以選擇不同的功能性樣品座,不僅能截面刻蝕,還可以進行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。
更新時間:2025-12-22
日本JEOL 截面樣品拋光儀
日本jeol 截面樣品拋光儀 ib-19520ccp,在加工過程中利用液氮冷卻,能減輕離子束對樣品造成的熱損傷。冷卻持續(xù)時間長、液氮消耗少的構(gòu)造設(shè)計。在裝有液氮的情況下,也能將樣品快速冷卻、恢復(fù)到室溫,并且可以拆卸。配有傳送機構(gòu),在隔離空氣的環(huán)境下能完成從加工到觀察的全過程。
更新時間:2025-12-22
日本JEOL 軟X射線分析譜儀
日本jeol 軟x射線分析譜儀,通過組合新開發(fā)的衍射光柵和高靈敏度x射線ccd相機,實現(xiàn)了高的能量分辨率。 和eds一樣可以并行檢測,并且能以0.3ev(費米邊處al-l基準(zhǔn))的高能量分辨率進行分析,超過了wds的能量分辨率。
更新時間:2025-12-22
日本JEOL 電子探針顯微分析儀
日本jeol 電子探針顯微分析儀 jxa-ihp100,可以安裝通用性強、使用方便的能譜儀x射線探測器,組合使用wds和eds,能提供無縫、舒適的分析環(huán)境。
更新時間:2025-12-22
日本JEOL 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng)
日本jeol 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng) jib-4000,配置了高性能的離子鏡筒(單束fib裝置)。被加速了的鎵離子束經(jīng)聚焦照射樣品后,就能對樣品表面進行sim觀察 、研磨,沉積碳和鎢等材料。還可以為tem成像制備薄膜樣品,為觀察樣品內(nèi)部制備截面樣品。通過與sem像比較,sim像能清楚地顯示出歸因于晶體取向不同的電子通道襯度差異,這些都非常適合于評估多層鍍膜的截面及金屬結(jié)構(gòu)。
更新時間:2025-12-22

最新產(chǎn)品

熱門儀器: 液相色譜儀 氣相色譜儀 原子熒光光譜儀 可見分光光度計 液質(zhì)聯(lián)用儀 壓力試驗機 酸度計(PH計) 離心機 高速離心機 冷凍離心機 生物顯微鏡 金相顯微鏡 標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì) 生物試劑